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文献
J-GLOBAL ID：202002211143605942
整理番号：20A2083457
市販USB ICソフト故障感度測定法と傾向解析【JST・京大機械翻訳】
Commercial USB IC Soft-Failure Sensitivity Measurement Method and Trend Analysis
Hua Runbing
(EMC Laboratory, Missouri University of Science and Technology,Rolla,MO,USA)
,
Hoseini Omid
(EMC Laboratory, Missouri University of Science and Technology,Rolla,MO,USA)
,
Peng Zhekun
(EMC Laboratory, Missouri University of Science and Technology,Rolla,MO,USA)
,
Shumiya Hideki
(Sony Global M&O Corporation,Tokyo,Japan)
,
Konno Shota
(Sony Global M&O Corporation,Tokyo,Japan)
,
Araki Kenji
(Sony Global M&O Corporation,Tokyo,Japan)
,
Pommerenke David
(Graz University of Technology,Rechbauerstras&e 12, Graz,Austria,8010)
,
Kim Donghyun
(EMC Laboratory, Missouri University of Science and Technology,Rolla,MO,USA)
資料名：
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻： 2020 号： EMCSI ページ： 200-204 発行年： 2020年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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