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J-GLOBAL ID:202002211291194643   整理番号:20A0503873

走査型ヘリウム顕微鏡における多重散乱【JST・京大機械翻訳】

Multiple scattering in scanning helium microscopy
著者 (9件):
Lambrick S. M.
(Department of Physics, Cavendish Laboratory, University of Cambridge, JJ Thomson Avenue, Cambridge CB3 0HE, United Kingdom)
Vozdecky L.
(Department of Physics, Cavendish Laboratory, University of Cambridge, JJ Thomson Avenue, Cambridge CB3 0HE, United Kingdom)
Bergin M.
(Department of Physics, Cavendish Laboratory, University of Cambridge, JJ Thomson Avenue, Cambridge CB3 0HE, United Kingdom)
Halpin J. E.
(SUPA, School of Physics and Astronomy, University of Glasgow, Glasgow G12 8QQ, United Kingdom)
MacLaren D. A.
(SUPA, School of Physics and Astronomy, University of Glasgow, Glasgow G12 8QQ, United Kingdom)
Dastoor P. C.
(Centre for Organic Electronics, Physics Building, University of Newcastle, Callaghan NSW 2308, Australia)
Przyborski S. A.
(Department of Biosciences, Durham University, South Road, Durham DH1 3LE, United Kingdom)
Jardine A. P.
(Department of Physics, Cavendish Laboratory, University of Cambridge, JJ Thomson Avenue, Cambridge CB3 0HE, United Kingdom)
Ward D. J.
(Department of Physics, Cavendish Laboratory, University of Cambridge, JJ Thomson Avenue, Cambridge CB3 0HE, United Kingdom)

資料名:
Applied Physics Letters  (Applied Physics Letters)

巻: 116  号:ページ: 061601-061601-5  発行年: 2020年 
JST資料番号: H0613A  ISSN: 0003-6951  CODEN: APPLAB  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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