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文献
J-GLOBAL ID：202002212830602143
整理番号：20A0434044
深い極低温まで動作するSiGe HBTのDCおよびRF可変性【JST・京大機械翻訳】
DC and RF Variability of SiGe HBTs Operating Down to Deep Cryogenic Temperatures
Ying Hanbin
(Georgia Tech,School of Electrical and Computer Engineering,Atlanta,GA,USA,30332-0250)
,
Teng Jeffrey W.
(Georgia Tech,School of Electrical and Computer Engineering,Atlanta,GA,USA,30332-0250)
,
Tzintzarov George N.
(Georgia Tech,School of Electrical and Computer Engineering,Atlanta,GA,USA,30332-0250)
,
Omprakash Anup P.
(Georgia Tech,School of Electrical and Computer Engineering,Atlanta,GA,USA,30332-0250)
,
Rao Sunil G.
(Georgia Tech,School of Electrical and Computer Engineering,Atlanta,GA,USA,30332-0250)
,
Raghunathan Uppili
(Georgia Tech,School of Electrical and Computer Engineering,Atlanta,GA,USA,30332-0250)
,
Ildefonso Adrian
(Georgia Tech,School of Electrical and Computer Engineering,Atlanta,GA,USA,30332-0250)
,
Fernandez Martin S.
(Georgia Tech,School of Electrical and Computer Engineering,Atlanta,GA,USA,30332-0250)
,
Cressler John D.
(Georgia Tech,School of Electrical and Computer Engineering,Atlanta,GA,USA,30332-0250)
資料名：
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻： 2019 号： BCICTS ページ： 1-4 発行年： 2019年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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