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文献
J-GLOBAL ID：202002213443447393
整理番号：20A1781655
シンクロトロンX線を用いたSOIピクセル検出器による鉄鋼材料の微細残留応力分布測定【JST・京大機械翻訳】
Fine residual stress distribution measurement of steel materials by SOI pixel detector with synchrotron X-rays
Nishimura Ryutaro
(Institute of Materials Structure Science, High Energy Accelerator Research Organization (KEK-IMSS), Oho 1-1, Tsukuba, Ibaraki, 305-0801, Japan)
,
Kishimoto Shunji
(Institute of Materials Structure Science, High Energy Accelerator Research Organization (KEK-IMSS), Oho 1-1, Tsukuba, Ibaraki, 305-0801, Japan)
,
Sasaki Toshihiko
(Institute of Human and Social Sciences, Kanazawa University, Kakumamachi, Kanazawa, Ishikawa 920-1192, Japan)
,
Mitsui Shingo
(Institute of Human and Social Sciences, Kanazawa University, Kakumamachi, Kanazawa, Ishikawa 920-1192, Japan)
,
Shinya Masayoshi
(Graduate School of Natural Science and Technology, Kanazawa University, Kakumamachi, Kanazawa, Ishikawa 920-1192, Japan)
,
Arai Yasuo
(Institute of Particle and Nuclear Studies, High Energy Accelerator Research Organization (KEK-IPNS), Oho 1-1, Tsukuba, Ibaraki, 305-0801, Japan)
,
Miyoshi Toshinobu
(Institute of Particle and Nuclear Studies, High Energy Accelerator Research Organization (KEK-IPNS), Oho 1-1, Tsukuba, Ibaraki, 305-0801, Japan)
資料名：
Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section A. Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment
(Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section A. Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment)
巻： 978 ページ： Null 発行年： 2020年
JST資料番号： D0208B ISSN： 0168-9002 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： オランダ (NLD) 言語： 英語 (EN)
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