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J-GLOBAL ID:202002218613546708   整理番号:20A0595194

窒化アルミニウムと3C-SiCバッファ層を用いた微斜面Si(001)基板上に成長させた半極性窒化ガリウム層における転位反応【JST・京大機械翻訳】

Dislocation Reactions in a Semipolar Gallium Nitride Layer Grown on a Vicinal Si(001) Substrate Using Aluminum Nitride and 3C-SiC Buffer Layers
著者 (8件):
Sorokin L. M.
(Ioffe Institute, St. Petersburg, Russia)
Gutkin M. Yu.
(Institute of Problems of Mechanical Engineering, Russian Academy of Sciences, St. Petersburg, Russia)
Gutkin M. Yu.
(“ITMO University”, St. Petersburg, Russia)
Gutkin M. Yu.
(Peter the Great St. Petersburg Polytechnic University, St. Petersburg, Russia)
Myasoedov A. V.
(Ioffe Institute, St. Petersburg, Russia)
Kalmykov A. E.
(Ioffe Institute, St. Petersburg, Russia)
Bessolov V. N.
(Ioffe Institute, St. Petersburg, Russia)
Kukushkin S. A.
(“ITMO University”, St. Petersburg, Russia)

資料名:
Physics of the Solid State  (Physics of the Solid State)

巻: 61  号: 12  ページ: 2316-2320  発行年: 2019年 
JST資料番号: W0823A  ISSN: 1063-7834  CODEN: PSOSED  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: ドイツ (DEU)  言語: 英語 (EN)
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