文献
J-GLOBAL ID:202002218671272369
整理番号:20A0834398
アンメータの欠陥検査のためのマルチパスオブジェクト検出法【JST・京大機械翻訳】
Multi-pass Object Detection Method for Flaw Inspection of Ammeters
著者 (6件):
Shen Guang
(State Grid Zhejiang Electric Power Co., LTD,Hangzhou,China)
,
Jiao Zhiqiang
(College of Computer Science, Zhejiang University,Hangzhou,China)
,
Yan Huajiang
(Electric Power Research Institute, State Grid Zhejiang Electric Power Co., LTD,Hangzhou,China)
,
Wang Qiang
(College of Computer Science, Zhejiang University,Hangzhou,China)
,
Xu Chuanzi
(State Grid Zhejiang Hangzhou Fuyang District Power Supply Co., LTD,Hangzhou,China)
,
Wen An
(Zhejiang Huayun Information Technology Co., Ltd,Hangzhou,China)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2019
号:
ICSAI
ページ:
1600-1604
発行年:
2019年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)