文献
J-GLOBAL ID:202002218834475742
整理番号:20A0963919
先進SOIおよびバルクFinFET技術におけるESD保護設計の概要【JST・京大機械翻訳】
ESD Protection Design Overview in Advanced SOI and Bulk FinFET Technologies
著者 (3件):
Li You
(Globalfoundries, Essex Junction,VT,USA,05452)
,
Miao Meng
(Globalfoundries, Essex Junction,VT,USA,05452)
,
Gauthier Robert
(Globalfoundries, Essex Junction,VT,USA,05452)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2020
号:
CICC
ページ:
1-4
発行年:
2020年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)