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文献
J-GLOBAL ID:202002219738991473   整理番号:20A2472192

SEN:プロトタイプ少数ショット学習ネットワークのための新しい特徴正規化非類似性測度【JST・京大機械翻訳】

SEN: A Novel Feature Normalization Dissimilarity Measure for Prototypical Few-Shot Learning Networks
著者 (7件):
Nguyen Van Nhan
(UiT Machine Learning Group, UiT The Arctic University of Norway, Tromso, Norway)
Nguyen Van Nhan
(Analytics Department, eSmart Systems, Halden, Norway)
Lokse Sigurd
(UiT Machine Learning Group, UiT The Arctic University of Norway, Tromso, Norway)
Wickstrom Kristoffer
(UiT Machine Learning Group, UiT The Arctic University of Norway, Tromso, Norway)
Kampffmeyer Michael
(UiT Machine Learning Group, UiT The Arctic University of Norway, Tromso, Norway)
Roverso Davide
(Analytics Department, eSmart Systems, Halden, Norway)
Jenssen Robert
(UiT Machine Learning Group, UiT The Arctic University of Norway, Tromso, Norway)

資料名:
Lecture Notes in Computer Science  (Lecture Notes in Computer Science)

巻: 12368  ページ: 118-134  発行年: 2020年 
JST資料番号: H0078D  ISSN: 0302-9743  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: ドイツ (DEU)  言語: 英語 (EN)
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