文献
J-GLOBAL ID:202002219738991473
整理番号:20A2472192
SEN:プロトタイプ少数ショット学習ネットワークのための新しい特徴正規化非類似性測度【JST・京大機械翻訳】
SEN: A Novel Feature Normalization Dissimilarity Measure for Prototypical Few-Shot Learning Networks
著者 (7件):
Nguyen Van Nhan
(UiT Machine Learning Group, UiT The Arctic University of Norway, Tromso, Norway)
,
Nguyen Van Nhan
(Analytics Department, eSmart Systems, Halden, Norway)
,
Lokse Sigurd
(UiT Machine Learning Group, UiT The Arctic University of Norway, Tromso, Norway)
,
Wickstrom Kristoffer
(UiT Machine Learning Group, UiT The Arctic University of Norway, Tromso, Norway)
,
Kampffmeyer Michael
(UiT Machine Learning Group, UiT The Arctic University of Norway, Tromso, Norway)
,
Roverso Davide
(Analytics Department, eSmart Systems, Halden, Norway)
,
Jenssen Robert
(UiT Machine Learning Group, UiT The Arctic University of Norway, Tromso, Norway)
資料名:
Lecture Notes in Computer Science
(Lecture Notes in Computer Science)
巻:
12368
ページ:
118-134
発行年:
2020年
JST資料番号:
H0078D
ISSN:
0302-9743
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
ドイツ (DEU)
言語:
英語 (EN)