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文献
J-GLOBAL ID：202002223455343239
整理番号：20A1100997
FPGAに基づくメモリコントローラ系によるNANDフラッシュ耐久性予測方式【JST・京大機械翻訳】
A NAND Flash Endurance Prediction Scheme with FPGA-based Memory Controller System
Chen Zhuo
(Huazhong University of Science and Technology,School of Optical and Electronic Information,Wuhan City,China)
,
Pan Yuqian
(Huazhong University of Science and Technology,School of Optical and Electronic Information,Wuhan City,China)
,
Gong Mingyang
(Huazhong University of Science and Technology,School of Optical and Electronic Information,Wuhan City,China)
,
Zhang Haichun
(Huazhong University of Science and Technology,School of Optical and Electronic Information,Wuhan City,China)
,
Zhang Mingyu
(Shenzhen Zhongkexunlian Technology Co.,Ltd,Shenzhen City,China)
,
Liu Zhenglin
(Huazhong University of Science and Technology,School of Optical and Electronic Information,Wuhan City,China)
資料名：
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻： 2019 号： SOCC ページ： 68-73 発行年： 2019年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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