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文献
J-GLOBAL ID:202002224820342985   整理番号:20A0432747

半導体ウエハ製造における安全在庫と予測進展による生産計画モデルのシミュレーションベース性能評価【JST・京大機械翻訳】

Simulation-Based Performance Assessment of Production Planning Models With Safety Stock and Forecast Evolution in Semiconductor Wafer Fabrication
著者 (3件):
Ziarnetzky Timm
(Department of Mathematics and Computer Science, University of Hagen, Hagen, Germany)
Monch Lars
(Department of Mathematics and Computer Science, University of Hagen, Hagen, Germany)
Uzsoy Reha
(Edward P. Fitts Department of Industrial and Systems Engineering, North Carolina State University, Raleigh, NC, USA)

資料名:
IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing  (IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing)

巻: 33  号:ページ: 1-12  発行年: 2020年 
JST資料番号: T0521A  ISSN: 0894-6507  CODEN: ITSMED  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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