文献
J-GLOBAL ID:202002224939962126
整理番号:20A0818418
粗面からの電磁散乱の高速広角度掃引【JST・京大機械翻訳】
Fast Wide Angular Sweeping of Electromagnetic Scattering from Rough Surfaces
著者 (3件):
Pan Xiao-Min
(Center for Electromagnetic Simulation, School of Information and Electronics, Beijing Institute of Technology,Beijing,P.R.China)
,
Huang Si-Lu
(Center for Electromagnetic Simulation, School of Information and Electronics, Beijing Institute of Technology,Beijing,P.R.China)
,
Sheng Xin-Qing
(Center for Electromagnetic Simulation, School of Information and Electronics, Beijing Institute of Technology,Beijing,P.R.China)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2019
号:
ICMMT
ページ:
1-3
発行年:
2019年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)