文献
J-GLOBAL ID:202002225411080059
整理番号:20A0589305
レーザ照射により修飾したCd_1-xMn_xTe膜と層の偏光解析研究と走査電子顕微鏡観察【JST・京大機械翻訳】
Ellipsometric studies and scanning electron microscopy of Cd1-xMnxTe films and layers modified by laser irradiation
著者 (6件):
Strebezhev V. M.
(Yuriy Fedkovych Chernivtsi National Univ. (Ukraine))
,
Yuriychuk I. M.
(Yuriy Fedkovych Chernivtsi National Univ. (Ukraine))
,
Fochuk P. M.
(Yuriy Fedkovych Chernivtsi National Univ. (Ukraine))
,
Strebezhev V. V.
(Yuriy Fedkovych Chernivtsi National Univ. (Ukraine))
,
Pylypko V. G.
(Yuriy Fedkovych Chernivtsi National Univ. (Ukraine))
,
Sorokatyi M. O.
(Yuriy Fedkovych Chernivtsi National Univ. (Ukraine))
資料名:
Proceedings of SPIE
(Proceedings of SPIE)
巻:
11369
ページ:
113691E-8
発行年:
2020年
JST資料番号:
D0943A
ISSN:
0277-786X
CODEN:
PSISDG
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)