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文献
J-GLOBAL ID：202002226719402538
整理番号：20A2259428
CMOSイメージセンサにおける陽子照射誘起暗電流劣化【JST・京大機械翻訳】
Proton Radiation Induced Dark Current Degradation in CMOS Image Sensor
Liu Chao
(Northwestern Polytechnical University,Institute of Microelectronics,Xi’an,710072 Shaanxi,China)
,
Zheng Ran
(Northwestern Polytechnical University,Institute of Microelectronics,Xi’an,710072 Shaanxi,China)
,
Wei Xiaomin
(Northwestern Polytechnical University,Institute of Microelectronics,Xi’an,710072 Shaanxi,China)
,
Wang Jia
(Northwestern Polytechnical University,Institute of Microelectronics,Xi’an,710072 Shaanxi,China)
,
Hu Yann
(Northwestern Polytechnical University,Institute of Microelectronics,Xi’an,710072 Shaanxi,China)
資料名：
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻： 2019 号： ICREED ページ： 1-4 発行年： 2019年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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