文献
J-GLOBAL ID:202002227848711996
整理番号:20A2192516
走査Kelvinプローブ力顕微鏡により解析した破壊後の水素荷電S30408における水素分布と偏析【JST・京大機械翻訳】
Hydrogen distribution and segregation in hydrogen-charged S30408 after fracture analyzed via scanning Kelvin probe force microscopy
著者 (2件):
Shang Juan
(Institute of Process Equipment, Zhejiang University, Hangzhou, Zhejiang 310027, PR China)
,
Hua Zhengli
(Institute of Process Equipment, Zhejiang University, Hangzhou, Zhejiang 310027, PR China)
資料名:
Applied Surface Science
(Applied Surface Science)
巻:
528
ページ:
Null
発行年:
2020年
JST資料番号:
B0707B
ISSN:
0169-4332
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)