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文献
J-GLOBAL ID：202002228808577671
整理番号：20A0373808
WDM領域における半導体光増幅器の非線形歪の実験的特性化【JST・京大機械翻訳】
Experimental Characterization of Nonlinear Distortions of Semiconductor Optical Amplifiers in the WDM Regime
Arnould Aymeric
(Nokia Bell Labs, Paris Saclay, Nozay, France)
,
Ghazisaeidi Amirhossein
(Nokia Bell Labs, Paris Saclay, Nozay, France)
,
Le Gac Dylan
(Nokia Bell Labs, Paris Saclay, Nozay, France)
,
Brindel Patrick
(Nokia Bell Labs, Paris Saclay, Nozay, France)
,
Makhsiyan Mathilde
(III-V Lab (A Joint Laboratory Between Nokia, Thale`s, and CEA-LETI), Palaiseau, France)
,
Mekhazni Karim
(III-V Lab (A Joint Laboratory Between Nokia, Thale`s, and CEA-LETI), Palaiseau, France)
,
Blache Fabrice
(III-V Lab (A Joint Laboratory Between Nokia, Thale`s, and CEA-LETI), Palaiseau, France)
,
Achouche Mohand
(III-V Lab (A Joint Laboratory Between Nokia, Thale`s, and CEA-LETI), Palaiseau, France)
,
Renaudier Jeremie
(Nokia Bell Labs, Paris Saclay, Nozay, France)
資料名：
Journal of Lightwave Technology
(Journal of Lightwave Technology)
巻： 38 号： 2 ページ： 509-513 発行年： 2020年
JST資料番号： H0922A ISSN： 0733-8724 CODEN： JLTEDG 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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