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文献
J-GLOBAL ID：202002228896949292
整理番号：20A0911689
電子回路とシステムの設計と診断に関する国際シンポジウム【JST・京大機械翻訳】
International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems
Stamenkovic Zoran
(IHP - Leibniz-Institut fuer innovative Mikroelektronik,Frankfurt (Oder),Germany)
,
Bosio Alberto
(Institute of Nanotechnology of Lyon, Ecole Centrale de Lyon,Ecully,France)
,
Cserey Gyorgy
(Faculty of Information Technology and Bionics, Pazmany Peter Catholic University,Budapest,Hungary)
,
Novak Ondrej
(Faculty of Mechatronics and Interdis. Studies, Technical University of Liberec,Liberec,Czechia)
,
Pleskacz Witold
(Institute of Microelectr. and Optoelectronics, Warsaw University of Technology,Warsaw,Poland)
,
Sekanina Lukas
(Faculty of Information Technology, Brno University of Technology,Brno,Czechia)
,
Steininger Andreas
(Institute of Computer Engineering, Vienna University of Technology,Vienna,Austria)
,
Stojanovic Goran
(Faculty of Technical Sciences, University of Novi Sad,Novi Sad,Serbia)
,
Stopjakova Viera
(Faculty of Elect. Eng. and Information Techn., Slovak University of Technology,Bratislava,Slovakia)
資料名：
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻： 2019 号： ITC ページ： 1-4 発行年： 2019年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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