文献
J-GLOBAL ID:202002230673088283
整理番号:20A2753987
熱拡散イメージング:広い温度範囲における薄膜の面内熱伝導率測定【JST・京大機械翻訳】
Heat diffusion imaging: In-plane thermal conductivity measurement of thin films in a broad temperature range
著者 (4件):
Zhu Tianhui
(Department of Electrical and Computer Engineering, University of Virginia, Charlottesville, Virginia 22904, USA)
,
Olson David H.
(Department of Mechanical and Aerospace Engineering, University of Virginia, Charlottesville, Virginia 22904, USA)
,
Hopkins Patrick E.
(Department of Mechanical and Aerospace Engineering, University of Virginia, Charlottesville, Virginia 22904, USA)
,
Zebarjadi Mona
(Department of Electrical and Computer Engineering, University of Virginia, Charlottesville, Virginia 22904, USA)
資料名:
Review of Scientific Instruments
(Review of Scientific Instruments)
巻:
91
号:
11
ページ:
113701-113701-7
発行年:
2020年
JST資料番号:
D0517A
ISSN:
0034-6748
CODEN:
RSINAK
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)