文献
J-GLOBAL ID:202002231020007657
整理番号:20A0216535
参照電荷サイドチャネル攻撃に対する安全なADCのためのランダム中断ディザリングSAR技術【JST・京大機械翻訳】
A Random Interrupt Dithering SAR Technique for Secure ADC Against Reference-Charge Side-Channel Attack
著者 (5件):
Miki Takuji
(Graduate School of Science, Technology and Innovation, Kobe University, Kobe, Japan)
,
Miura Noriyuki
(Graduate School of Science, Technology and Innovation, Kobe University, Kobe, Japan)
,
Sonoda Hiroki
(Graduate School of Science, Technology and Innovation, Kobe University, Kobe, Japan)
,
Mizuta Kento
(Graduate School of Science, Technology and Innovation, Kobe University, Kobe, Japan)
,
Nagata Makoto
(Graduate School of Science, Technology and Innovation, Kobe University, Kobe, Japan)
資料名:
IEEE Transactions on Circuits and Systems 2: Express Briefs
(IEEE Transactions on Circuits and Systems 2: Express Briefs)
巻:
67
号:
1
ページ:
14-18
発行年:
2020年
JST資料番号:
W0347A
ISSN:
1549-7747
CODEN:
ITCSFK
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)