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J-GLOBAL ID:202002231554139380   整理番号:20A2008046

脆性材料のモード依存破壊試験のための新しいマイクロスケール試料:GaAs単結晶に関する事例研究【JST・京大機械翻訳】

Novel micro-scale specimens for mode-dependent fracture testing of brittle materials: A case study on GaAs single crystals
著者 (6件):
Ast J.
(Empa Swiss Federal Laboratories for Materials Science and Technology, Laboratory for Mechanics of Materials and Nanostructures, Thun, Switzerland)
Ast J.
(Fraunhofer IKTS, Fraunhofer Institute for Ceramic Technologies and Systems, Forchheim, Germany)
Schwiedrzik J.J.
(Empa Swiss Federal Laboratories for Materials Science and Technology, Laboratory for Mechanics of Materials and Nanostructures, Thun, Switzerland)
Rohbeck N.
(Empa Swiss Federal Laboratories for Materials Science and Technology, Laboratory for Mechanics of Materials and Nanostructures, Thun, Switzerland)
Maeder X.
(Empa Swiss Federal Laboratories for Materials Science and Technology, Laboratory for Mechanics of Materials and Nanostructures, Thun, Switzerland)
Michler J.
(Empa Swiss Federal Laboratories for Materials Science and Technology, Laboratory for Mechanics of Materials and Nanostructures, Thun, Switzerland)

資料名:
Materials & Design  (Materials & Design)

巻: 193  ページ: Null  発行年: 2020年 
JST資料番号: A0495B  ISSN: 0264-1275  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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