文献
J-GLOBAL ID:202002232530848989
整理番号:20A2767647
高温信頼性試験におけるコストダウンIC駆動GOAパネルのジッタH線故障に関する解析と研究【JST・京大機械翻訳】
Analysis and Research on Jittering H-line Failure of Cost-down IC Driven GOA Panel In High Temperature Reliability Test
著者 (6件):
Song Yong
(Beijing BOE Optoelectronics Technology Co. Ltd.,Beijing,China)
,
Guo Lei
(Beijing BOE Optoelectronics Technology Co. Ltd.,Beijing,China)
,
Zhang Jiali
(Beijing BOE Optoelectronics Technology Co. Ltd.,Beijing,China)
,
Zhang Zhengxin
(Beijing BOE Optoelectronics Technology Co. Ltd.,Beijing,China)
,
Yu Hongjun
(Beijing BOE Optoelectronics Technology Co. Ltd.,Beijing,China)
,
Xue Hailin
(Beijing BOE Optoelectronics Technology Co. Ltd.,Beijing,China)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2020
号:
IPFA
ページ:
1-2
発行年:
2020年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)