文献
J-GLOBAL ID:202002233525947069
整理番号:20A1365306
深層学習に基づくソースコード欠陥解析に関する調査【JST・京大機械翻訳】
A Survey on Deep Learning-Based Source Code Defect Analysis
著者 (5件):
Guan Zhibin
(China Information Technology Security Evaluation Center,Beijing,China)
,
Wang Xiaomeng
(China Information Technology Security Evaluation Center,Beijing,China)
,
Xin Wei
(China Information Technology Security Evaluation Center,Beijing,China)
,
Wang Jiajie
(China Information Technology Security Evaluation Center,Beijing,China)
,
Zhang Li
(China Information Technology Security Evaluation Center,Beijing,China)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2020
号:
ICCCS
ページ:
167-171
発行年:
2020年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)