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J-GLOBAL ID:202002233768006438   整理番号:20A1662381

安定で効率的なペロブスカイト太陽電池のためのI/P界面改質【JST・京大機械翻訳】

I/P interface modification for stable and efficient perovskite solar cells
著者 (12件):
Jie Zhang
(INSTITUTE OF PHOTOELECTRONIC THIN FILM DEVICES AND TECHNOLOGY OF NANKAI UNIVERSITY, TIANJIN 300350, CHINA;KEY LABORATORY OF PHOTOELECTRONIC THIN FILM DEVICES AND TECHNOLOGY OF TIANJIN, TIANJIN 300350,)
Shixin Hou
(INSTITUTE OF PHOTOELECTRONIC THIN FILM DEVICES AND TECHNOLOGY OF NANKAI UNIVERSITY, TIANJIN 300350, CHINA;KEY LABORATORY OF PHOTOELECTRONIC THIN FILM DEVICES AND TECHNOLOGY OF TIANJIN, TIANJIN 300350,)
Renjie Li
(INSTITUTE OF PHOTOELECTRONIC THIN FILM DEVICES AND TECHNOLOGY OF NANKAI UNIVERSITY, TIANJIN 300350, CHINA;KEY LABORATORY OF PHOTOELECTRONIC THIN FILM DEVICES AND TECHNOLOGY OF TIANJIN, TIANJIN 300350,)
Bingbing Chen
(INSTITUTE OF PHOTOELECTRONIC THIN FILM DEVICES AND TECHNOLOGY OF NANKAI UNIVERSITY, TIANJIN 300350, CHINA;KEY LABORATORY OF PHOTOELECTRONIC THIN FILM DEVICES AND TECHNOLOGY OF TIANJIN, TIANJIN 300350,)
Fuhua Hou
(INSTITUTE OF PHOTOELECTRONIC THIN FILM DEVICES AND TECHNOLOGY OF NANKAI UNIVERSITY, TIANJIN 300350, CHINA;KEY LABORATORY OF PHOTOELECTRONIC THIN FILM DEVICES AND TECHNOLOGY OF TIANJIN, TIANJIN 300350,)
Xinghua Cui
(INSTITUTE OF PHOTOELECTRONIC THIN FILM DEVICES AND TECHNOLOGY OF NANKAI UNIVERSITY, TIANJIN 300350, CHINA;KEY LABORATORY OF PHOTOELECTRONIC THIN FILM DEVICES AND TECHNOLOGY OF TIANJIN, TIANJIN 300350,)
Jingjing Liu
(INSTITUTE OF PHOTOELECTRONIC THIN FILM DEVICES AND TECHNOLOGY OF NANKAI UNIVERSITY, TIANJIN 300350, CHINA;KEY LABORATORY OF PHOTOELECTRONIC THIN FILM DEVICES AND TECHNOLOGY OF TIANJIN, TIANJIN 300350,)
Qi Wang
(INSTITUTE OF PHOTOELECTRONIC THIN FILM DEVICES AND TECHNOLOGY OF NANKAI UNIVERSITY, TIANJIN 300350, CHINA;KEY LABORATORY OF PHOTOELECTRONIC THIN FILM DEVICES AND TECHNOLOGY OF TIANJIN, TIANJIN 300350,)
Pengyang Wang
(INSTITUTE OF PHOTOELECTRONIC THIN FILM DEVICES AND TECHNOLOGY OF NANKAI UNIVERSITY, TIANJIN 300350, CHINA;KEY LABORATORY OF PHOTOELECTRONIC THIN FILM DEVICES AND TECHNOLOGY OF TIANJIN, TIANJIN 300350,)
Dekun Zhang
(INSTITUTE OF PHOTOELECTRONIC THIN FILM DEVICES AND TECHNOLOGY OF NANKAI UNIVERSITY, TIANJIN 300350, CHINA;KEY LABORATORY OF PHOTOELECTRONIC THIN FILM DEVICES AND TECHNOLOGY OF TIANJIN, TIANJIN 300350,)
Ying Zhao
(INSTITUTE OF PHOTOELECTRONIC THIN FILM DEVICES AND TECHNOLOGY OF NANKAI UNIVERSITY, TIANJIN 300350, CHINA;KEY LABORATORY OF PHOTOELECTRONIC THIN FILM DEVICES AND TECHNOLOGY OF TIANJIN, TIANJIN 300350,)
Xiaodan Zhang
(INSTITUTE OF PHOTOELECTRONIC THIN FILM DEVICES AND TECHNOLOGY OF NANKAI UNIVERSITY, TIANJIN 300350, CHINA;KEY LABORATORY OF PHOTOELECTRONIC THIN FILM DEVICES AND TECHNOLOGY OF TIANJIN, TIANJIN 300350,)

資料名:
Journal of Semiconductors  (Journal of Semiconductors)

巻: 41  号:ページ: 75-81  発行年: 2020年 
JST資料番号: C2377A  ISSN: 1674-4926  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 中国 (CHN)  言語: 英語 (EN)
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