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文献
J-GLOBAL ID：202002239351324332
整理番号：20A2238357
陽電子消滅によるSiO2/GaN構造の空隙と空孔型欠陥の検出
Open spaces and vacancies in SiO2/GaN structure probed by means of positron annihilation
上殿明良
(筑波大)
,
上野航
(筑波大)
,
細井卓治
(大阪大 大学院)
,
EGGER W.
(UniBwM)
,
KOSCHINE T
(UniBwM)
,
HUGENSCHMIDT C.
(TUM)
,
DICKMANN M.
(UniBwM)
,
渡部平司
(大阪大 大学院)
資料名：
応用物理学会春季学術講演会講演予稿集(CD-ROM)
(Extended Abstracts. JSAP Spring Meeting (CD-ROM))
巻： 67th ページ： ROMBUNNO.14a-B401-3 発行年： 2020年02月28日
JST資料番号： Y0054B ISSN： 2436-7613 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報 発行国： 日本 (JPN) 言語： 日本語 (JA)
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