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文献
J-GLOBAL ID：202002239448773405
整理番号：20A2717767
走査Kelvinプローブ力顕微鏡(SKPFM)と水素濃度で測定したボルタ電位間の関係の定量的キャリブレーション【JST・京大機械翻訳】
Quantitative calibration of the relationship between Volta potential measured by scanning Kelvin probe force microscope (SKPFM) and hydrogen concentration
Ma Zhaoxiang
(Beijing Advanced Innovation Center for Materials Genome Engineering, Corrosion and Protection Center, University of Science and Technology Beijing, Beijing 100083, China)
,
Xiong Xilin
(Beijing Advanced Innovation Center for Materials Genome Engineering, Corrosion and Protection Center, University of Science and Technology Beijing, Beijing 100083, China)
,
Chen Lin
(Beijing Advanced Innovation Center for Materials Genome Engineering, Corrosion and Protection Center, University of Science and Technology Beijing, Beijing 100083, China)
,
Su Yanjing
(Beijing Advanced Innovation Center for Materials Genome Engineering, Corrosion and Protection Center, University of Science and Technology Beijing, Beijing 100083, China)
資料名：
Electrochimica Acta
(Electrochimica Acta)
巻： 366 ページ： Null 発行年： 2021年
JST資料番号： B0535B ISSN： 0013-4686 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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