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文献
J-GLOBAL ID：202002239789939396
整理番号：20A0450481
同軸透過暗視野顕微鏡による3D欠陥分布検出【JST・京大機械翻訳】
3D defect distribution detection by coaxial transmission dark-field microscopy
Li Lulu
(Institute of Machinery Manufacturing Technology, China Academy of Engineering Physics, 64th Mianshan Road, Mianyang, Sichuan 621000, China)
,
Liu Qian
(Institute of Machinery Manufacturing Technology, China Academy of Engineering Physics, 64th Mianshan Road, Mianyang, Sichuan 621000, China)
,
Zhang Hui
(Institute of Machinery Manufacturing Technology, China Academy of Engineering Physics, 64th Mianshan Road, Mianyang, Sichuan 621000, China)
,
Huang Wen
(Institute of Machinery Manufacturing Technology, China Academy of Engineering Physics, 64th Mianshan Road, Mianyang, Sichuan 621000, China)
資料名：
Optics and Lasers in Engineering
(Optics and Lasers in Engineering)
巻： 127 ページ： Null 発行年： 2020年
JST資料番号： A0602B ISSN： 0143-8166 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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