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文献
J-GLOBAL ID：202002240987442311
整理番号：20A1488684
プロセッサ活動下のセンス増幅器と書込みドライバのΔΣを含む完全32×64ビットSRAMアレイΣΔにおけるBTIとHCD劣化【JST・京大機械翻訳】
BTI and HCD Degradation in a Complete 32 ・ 64 bit SRAM Array - including Sense Amplifiers and Write Drivers - under Processor Activity
van Santen Victor M.
(Karlsruhe Institute of Technology (KIT),Department of Computer Science,Karlsruhe,Germany)
,
Thomann Simon
(Karlsruhe Institute of Technology (KIT),Department of Computer Science,Karlsruhe,Germany)
,
Pasupuleti Chaitanya
(IIT Bombay (IITB),Department of Electrical Engineering,Mumbai,India)
,
Genssler Paul R.
(Karlsruhe Institute of Technology (KIT),Department of Computer Science,Karlsruhe,Germany)
,
Gangwar Narendra
(IIT Bombay (IITB),Department of Electrical Engineering,Mumbai,India)
,
Sharma Uma
(IIT Bombay (IITB),Department of Electrical Engineering,Mumbai,India)
,
Henkel Jorg
(Karlsruhe Institute of Technology (KIT),Department of Computer Science,Karlsruhe,Germany)
,
Mahapatra Souvik
(IIT Bombay (IITB),Department of Electrical Engineering,Mumbai,India)
,
Amrouch Hussam
(Karlsruhe Institute of Technology (KIT),Department of Computer Science,Karlsruhe,Germany)
資料名：
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻： 2020 号： IRPS ページ： 1-7 発行年： 2020年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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