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文献
J-GLOBAL ID：202002242824432986
整理番号：20A0495743
重イオンを用いた強誘電体ランダムアクセスメモリにおけるSEEモードの解析【JST・京大機械翻訳】
Analysis of SEE modes in ferroelectric random access memory using heavy ions
Wei Jia-Nan
(Xi’an Jiaotong University,School of Nuclear Science and Technology,Xi’an,China,710049)
,
Guo Hong-Xia
(Xiangtan University,Key Laboratory for Low Dimensional Materials and Application Technology of Ministry of Education,Xiangtan,China,411105)
,
Zhang Feng-Qi
(Northwest Institute of Nuclear Technology,State Key Laboratory of Intense Pulsed Irradiation Simulation and Effect,Xi’an,China,710024)
,
Guo Gang
(China Institute of Atomic Energy,National Innovation Center of Radiation Application,Beijing,China,102413)
,
He Chao-Hui
(Xi’an Jiaotong University,School of Nuclear Science and Technology,Xi’an,China,710049)
資料名：
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻： 2019 号： IPFA ページ： 1-5 発行年： 2019年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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