文献
J-GLOBAL ID:202002244105251638
整理番号:20A0788468
高分子担持薄膜における電気測定からの有効亀裂長の決定【JST・京大機械翻訳】
Determining effective crack lengths from electrical measurements in polymer-supported thin films
著者 (5件):
Glushko O.
(Erich Schmid Institute of Materials Science, Austrian Academy of Sciences, Jahnstrasse 12, 8700 Leoben, Austria)
,
Glushko O.
(Department of Materials Physics, Montanuniversitaet Leoben, Jahnstrasse 12, 8700 Leoben, Austria)
,
Putz B.
(Erich Schmid Institute of Materials Science, Austrian Academy of Sciences, Jahnstrasse 12, 8700 Leoben, Austria)
,
Cordill M.J.
(Erich Schmid Institute of Materials Science, Austrian Academy of Sciences, Jahnstrasse 12, 8700 Leoben, Austria)
,
Cordill M.J.
(Department of Materials Physics, Montanuniversitaet Leoben, Jahnstrasse 12, 8700 Leoben, Austria)
資料名:
Thin Solid Films
(Thin Solid Films)
巻:
699
ページ:
Null
発行年:
2020年
JST資料番号:
B0899A
ISSN:
0040-6090
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)