文献
J-GLOBAL ID:202002244412810050
整理番号:20A0787843
遺伝的アルゴリズムを用いた光スクリーン配列測定システムの鍵構造パラメータの反転法【JST・京大機械翻訳】
Inversion method of the key structure parameters of light screen array measurement system using genetic algorithm
著者 (4件):
Chen Rui
(Shaanxi Province Key Laboratory of Photoelectric Measurement and Instrument Technology, Xi’an Technological University, Xi’an, 710021, China)
,
Chen Ding
(Shaanxi Province Key Laboratory of Photoelectric Measurement and Instrument Technology, Xi’an Technological University, Xi’an, 710021, China)
,
Ji Bowen
(Shaanxi Province Key Laboratory of Photoelectric Measurement and Instrument Technology, Xi’an Technological University, Xi’an, 710021, China)
,
Ni Jinping
(Shaanxi Province Key Laboratory of Photoelectric Measurement and Instrument Technology, Xi’an Technological University, Xi’an, 710021, China)
資料名:
Optik
(Optik)
巻:
206
ページ:
Null
発行年:
2020年
JST資料番号:
D0251A
ISSN:
0030-4026
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)