文献
J-GLOBAL ID:202002246098196202
整理番号:20A1037049
暗号の統計的解析のためのビット平面特異ランダム性試験【JST・京大機械翻訳】
Bit-Plane Specific Randomness Testing for Statistical Analysis of Ciphers
著者 (3件):
Ratan Ram
(Defence Research and Development Organization, Scientific Analysis Group, Delhi, India)
,
Jangid Bharat Lal
(Defence Research and Development Organization, Scientific Analysis Group, Delhi, India)
,
Arvind
(Hansraj College, University of Delhi, Delhi, India)
資料名:
Advances in Intelligent Systems and Computing
(Advances in Intelligent Systems and Computing)
巻:
1138
ページ:
199-213
発行年:
2020年
JST資料番号:
W5075A
ISSN:
2194-5357
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
ドイツ (DEU)
言語:
英語 (EN)