文献
J-GLOBAL ID:202002246160990092
整理番号:20A1488641
間欠的電流パルス下の金属-誘電体構造の信頼性【JST・京大機械翻訳】
Reliability of Metal-Dielectric Structures Under Intermittent Current Pulsing
著者 (6件):
Lee C-S.
(Purdue University,Department of Mechanical Engineering,West Lafayette,IN,USA)
,
Vaitheeswaran P.
(Purdue University,Department of Mechanical Engineering,West Lafayette,IN,USA)
,
Subbarayan G.
(Purdue University,Department of Mechanical Engineering,West Lafayette,IN,USA)
,
Park Y-J.
(Texas Instruments,Dallas,TX,USA)
,
Chung J.
(Texas Instruments,Dallas,TX,USA)
,
Krishnan S.
(Texas Instruments,Dallas,TX,USA)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2020
号:
IRPS
ページ:
1-6
発行年:
2020年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)