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文献
J-GLOBAL ID：202002246169341660
整理番号：20A2232918
マイクロ波Rayleigh散乱によるパルスマイクロ波アルゴンプラズマジェットの過渡電子密度の測定【JST・京大機械翻訳】
Measurement of transient electron density of a pulsed microwave argon plasma jet via microwave Rayleigh scattering
Zhang Ming
(Anhui Province Key Laboratory of Power Electronics and Electrical Drive, Anhui University of Technology, Maanshan 243032, People’s Republic of China)
,
Chen Zhaoquan
(Anhui Province Key Laboratory of Power Electronics and Electrical Drive, Anhui University of Technology, Maanshan 243032, People’s Republic of China)
,
Wu Jinfang
(Anhui Province Key Laboratory of Power Electronics and Electrical Drive, Anhui University of Technology, Maanshan 243032, People’s Republic of China)
,
Zhang Huang
(Anhui Province Key Laboratory of Power Electronics and Electrical Drive, Anhui University of Technology, Maanshan 243032, People’s Republic of China)
,
Zhang Sanyang
(Anhui Province Key Laboratory of Power Electronics and Electrical Drive, Anhui University of Technology, Maanshan 243032, People’s Republic of China)
,
Lu Xinpei
(State Key Laboratory of Advanced Electromagnetic Engineering and Technology, Huazhong University of Science and Technology, Wuhan, Hubei 430074, People’s Republic of China)
資料名：
Journal of Applied Physics
(Journal of Applied Physics)
巻： 128 号： 12 ページ： 123301-123301-11 発行年： 2020年
JST資料番号： C0266A ISSN： 0021-8979 CODEN： JAPIAU 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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