文献
J-GLOBAL ID:202002248151355909
整理番号:20A0075628
種々のArgon流速に対するGaN/p-Si薄膜の構造,形態および光学特性評価【JST・京大機械翻訳】
Structural, Morphological, and Optical Characterization of GaN/p-Si Thin Films for Various Argon Flow Rates
著者 (1件):
Mantarci Asim
(Physics Department, Science Faculty, Mus Alparslan University, Mus, Turkey)
資料名:
JOM
(JOM)
巻:
72
号:
1
ページ:
552-560
発行年:
2020年
JST資料番号:
C0321A
ISSN:
1047-4838
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
ドイツ (DEU)
言語:
英語 (EN)