文献
J-GLOBAL ID:202002248443999055
整理番号:20A2553709
グリッド接続T型3レベルインバータのためのIGBT開回路故障診断法【JST・京大機械翻訳】
An IGBT Open-Circuit Fault Diagnosis Method for Grid-Tied T-Type Three-Level Inverters
著者 (4件):
Li Zhan
(Nanyang Technological University,School of Electrical & Electronic Engineering,Singapore)
,
Zhao Bohui
(Nanyang Technological University,School of Electrical & Electronic Engineering,Singapore)
,
Zhang Xin
(Zhejiang University,College of Electrical Engineering,Hangzhou,China)
,
Ma Hao
(Zhejiang University,College of Electrical Engineering,Hangzhou,China)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2020
号:
ECCE
ページ:
5324-5327
発行年:
2020年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)