文献
J-GLOBAL ID:202002249457916241
整理番号:20A2767343
宇宙材料の二次Electron放出収率スペクトル測定システムの開発【JST・京大機械翻訳】
Development of a Measurement System for the Secondary Electron Emission Yield Spectrum of Space Materials
著者 (7件):
Chen Yu
(Xi’an Jiaotong University,School of Electrical Engineering,Xi’an,China)
,
Huang Guorui
(Xi’an Jiaotong University,School of Electrical Engineering,Xi’an,China)
,
Yang Yan
(Xi’an Jiaotong University,School of Electrical Engineering,Xi’an,China)
,
Shi Qingyun
(Xi’an Jiaotong University,School of Electrical Engineering,Xi’an,China)
,
Chen Zecai
(Xi’an Jiaotong University,School of Electrical Engineering,Xi’an,China)
,
Wang Shuang
(Xi’an Jiaotong University,School of Electrical Engineering,Xi’an,China)
,
Cheng Yonghong
(Xi’an Jiaotong University,School of Electrical Engineering,Xi’an,China)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2020
号:
ICSMD
ページ:
160-163
発行年:
2020年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)