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文献
J-GLOBAL ID：202002250191832001
整理番号：20A0914582
FinFET技術における性能,電力および信頼性に及ぼす自己加熱の影響【JST・京大機械翻訳】
Impact of Self-Heating on Performance, Power and Reliability in FinFET Technology
van Santen Victor M.
(Karlsruhe Institute of Technology,Department of Computer Science,Karlsruhe,Germany)
,
Genssler Paul R.
(Karlsruhe Institute of Technology,Department of Computer Science,Karlsruhe,Germany)
,
Prakash Om
(Karlsruhe Institute of Technology,Department of Computer Science,Karlsruhe,Germany)
,
Thomann Simon
(Karlsruhe Institute of Technology,Department of Computer Science,Karlsruhe,Germany)
,
Henkel Jorg
(Karlsruhe Institute of Technology,Department of Computer Science,Karlsruhe,Germany)
,
Amrouch Hussam
(Karlsruhe Institute of Technology,Department of Computer Science,Karlsruhe,Germany)
資料名：
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻： 2020 号： ASP-DAC ページ： 68-73 発行年： 2020年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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