文献
J-GLOBAL ID:202002250309348561
整理番号:20A0819358
TDDBに基づくSBD効果を用いた7nm CMOS技術における複合論理の性能変動の解析【JST・京大機械翻訳】
Analysis of Performance Variation of Composite Logic in 7nm CMOS Technology Using SBD Effect Based on TDDB
著者 (5件):
Patil Sayali
(Illinois Institute of Technology,Electrical and Computer Engineering Department,Chicago,USA)
,
Kim Young Bae
(Illinois Institute of Technology,Electrical and Computer Engineering Department,Chicago,USA)
,
Nan Haiqing
(Illinois Institute of Technology,Electrical and Computer Engineering Department,Chicago,USA)
,
Li Li
(Illinois Institute of Technology,Electrical and Computer Engineering Department,Chicago,USA)
,
Choi Ken
(Illinois Institute of Technology,Electrical and Computer Engineering Department,Chicago,USA)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2019
号:
ISOCC
ページ:
237-238
発行年:
2019年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)