文献
J-GLOBAL ID:202002254205877003
整理番号:20A0903986
1-D畳込みニューラルネットワークによるIPMSMにおけるターン間短絡故障と消磁故障の検出【JST・京大機械翻訳】
Detection of Interturn Short-Circuit Fault and Demagnetization Fault in IPMSM by 1-D Convolutional Neural Network
著者 (3件):
Lee Hojin
(Pohang University of Science and Technology,Department of Electrical Engineering,Pohang,Korea,37673)
,
Jeong Hyeyun
(Pohang University of Science and Technology,Department of Electrical Engineering,Pohang,Korea,37673)
,
Kim Sang Woo
(Pohang University of Science and Technology,Department of Electrical Engineering,Pohang,Korea,37673)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2019
号:
APPEEC
ページ:
1-5
発行年:
2019年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)