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J-GLOBAL ID:202002254947295514   整理番号:20A2614919

真空蒸着安定化a-Se光伝導膜の正孔寿命に及ぼす高線量X線照射の影響:X線検出器に用いられるa-Seの品質管理への含意【JST・京大機械翻訳】

Effects of High-Dose X-Ray Irradiation on the Hole Lifetime in Vacuum-Deposited Stabilized a-Se Photoconductive Films: Implications to the Quality Control of a-Se Used in X-Ray Detectors
著者 (3件):
Simonson B.
(Department of Electrical and Computer Engineering, University of Saskatchewan, Saskatoon, SK, Canada)
Johanson R. E.
(Department of Electrical and Computer Engineering, University of Saskatchewan, Saskatoon, SK, Canada)
Kasap S. O.
(Department of Electrical and Computer Engineering, University of Saskatchewan, Saskatoon, SK, Canada)

資料名:
IEEE Transactions on Nuclear Science  (IEEE Transactions on Nuclear Science)

巻: 67  号: 11  ページ: 2445-2453  発行年: 2020年 
JST資料番号: C0235A  ISSN: 0018-9499  CODEN: IETNAE  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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