文献
J-GLOBAL ID:202002255063835577
整理番号:20A1074619
ESRAMの信頼性:なぜ最適に解決しないのか?【JST・京大機械翻訳】
eSRAM Reliability: Why is it still not optimally solved?
著者 (6件):
Kraak Daniel
(Delft University of Technology, Mekelweg 4,CD Delft,The Netherlands,2628)
,
Taouil Mottaqiallah
(Delft University of Technology, Mekelweg 4,CD Delft,The Netherlands,2628)
,
Hamdioui Said
(Delft University of Technology, Mekelweg 4,CD Delft,The Netherlands,2628)
,
Weckx Pieter
(imec vzw, Kapeldreef 75,Leuven,Belgium,B-3001)
,
Cosemans Stefan
(imec vzw, Kapeldreef 75,Leuven,Belgium,B-3001)
,
Catthoor Francky
(imec vzw, Kapeldreef 75,Leuven,Belgium,B-3001)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2020
号:
DTIS
ページ:
1-6
発行年:
2020年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)