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文献
J-GLOBAL ID：202002255150261585
整理番号：20A2619833
多重線形回帰と多項式フィッティングに基づくSiC JBSのための磁場制限リング間隔パラメータ法【JST・京大機械翻訳】
Method of field limiting rings spacing parameter for SiC JBS based on multiple linear regression and polynomial fitting
Tang Maosen
(Southwest Jiaotong University,School of Electrical Engineering,Chengdu,China)
,
Jun Shen
(Southwest Jiaotong University,School of Electrical Engineering,Chengdu,China)
,
Zhou Zhengdong
(Zhuzhou CRRC Times Semiconductor Co., LTD,SiC Chip Product Development Dept.,Zhuzhou,China)
,
Ge Xinglai
(Southwest Jiaotong University,School of Electrical Engineering,Chengdu,China)
,
Liu Dong
(Southwest Jiaotong University,School of Electrical Engineering,Chengdu,China)
,
Zhou Rongbin
(Southwest Jiaotong University,School of Electrical Engineering,Chengdu,China)
資料名：
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻： 2020 号： ICIEA ページ： 1859-1863 発行年： 2020年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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