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文献
J-GLOBAL ID：202002255401824241
整理番号：20A1275662
連続走査積分法によるSiストリップX線検出器で収集した粉末回折データの赤道収差【JST・京大機械翻訳】
Equatorial aberration of powder diffraction data collected with an Si strip X-ray detector by a continuous-scan integration method
Ida Takashi
(Advanced Ceramics Research Center, Nagoya Institute of Technology, Asahigaoka 10-6-29, Tajimi, Gifu 507-0071, Japan)
資料名：
Journal of Applied Crystallography
(Journal of Applied Crystallography)
巻： 53 号： 3 ページ： 679-685 発行年： 2020年
JST資料番号： D0631A ISSN： 0021-8898 CODEN： JACGAR 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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