文献
J-GLOBAL ID:202002255455596834
整理番号:20A2501608
マルチレベルRRAMベース推論エンジンにおける2段階書込み検証スキームと読取雑音の影響【JST・京大機械翻訳】
Two-step write-verify scheme and impact of the read noise in multilevel RRAM-based inference engine
著者 (3件):
Shim Wonbo
(Electrical and Computer Engineering, Georgia Institute of Technology, Atlanta, GA, United States of America)
,
Seo Jae-sun
(School of Electrical, Computer and Energy Engineering, Arizona State University, Tempe, AZ, United States of America)
,
Yu Shimeng
(Electrical and Computer Engineering, Georgia Institute of Technology, Atlanta, GA, United States of America)
資料名:
Semiconductor Science and Technology
(Semiconductor Science and Technology)
巻:
35
号:
11
ページ:
115026 (7pp)
発行年:
2020年
JST資料番号:
E0503B
ISSN:
0268-1242
CODEN:
SSTEET
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)