文献
J-GLOBAL ID:202002255854741635
整理番号:20A2691259
アーキテクチャイベント測定による高周波性能監視【JST・京大機械翻訳】
High Frequency Performance Monitoring via Architectural Event Measurement
著者 (4件):
Woralert Chutitep
(Clarkson University,Department of Electrical and Computer Engineering,Potsdam,NY)
,
Bruska James
(Independent Researcher,Syracuse,NY)
,
Liu Chen
(Clarkson University,Department of Electrical and Computer Engineering,Potsdam,NY)
,
Yan Lok
(Air Force Research Lab,Rome,NY)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2020
号:
IISWC
ページ:
114-122
発行年:
2020年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)