文献
J-GLOBAL ID:202002256330197732
整理番号:20A2246085
SBDシステムにおけるpおよびn型半導体障壁の実験的周波数解析【JST・京大機械翻訳】
Experimental frequency analysis of p and n-type semiconductor barriers in SBD system
著者 (2件):
Solmaz Ramazan
(Institute of Science, University of Siirt, Siirt, Turkey)
,
Hansu Fevzi
(Department of Electrical & Electronics Engineering, University of Siirt, Siirt, Turkey)
資料名:
Vacuum
(Vacuum)
巻:
181
ページ:
Null
発行年:
2020年
JST資料番号:
E0347A
ISSN:
0042-207X
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)