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文献
J-GLOBAL ID：202002256673786199
整理番号：20A1753615
劣化検出のためのオンチップ遅延測定と加速寿命試験でのその評価【JST・京大機械翻訳】
On-Chip Delay Measurement for Degradation Detection And Its Evaluation under Accelerated Life Test
Miyake Yousuke
(Kyushu Institute of Technology 680-4 Kawazu, Iizuka,Fukuoka,Japan,820-8502)
,
Kato Takaaki
(Kyushu Institute of Technology 680-4 Kawazu, Iizuka,Fukuoka,Japan,820-8502)
,
Kajihara Seiji
(Kyushu Institute of Technology 680-4 Kawazu, Iizuka,Fukuoka,Japan,820-8502)
,
Aso Masao
(PRIVATECH Inc. 2-7-10 Kuwamizu, Chuo-ku,Kumamoto,Japan,862-0954)
,
Futami Haruji
(PRIVATECH Inc. 2-7-10 Kuwamizu, Chuo-ku,Kumamoto,Japan,862-0954)
,
Matsunaga Satoshi
(PRIVATECH Inc. 2-7-10 Kuwamizu, Chuo-ku,Kumamoto,Japan,862-0954)
,
Miura Yukiya
(Tokyo Metropolitan University 6-6 Asahigaoka, Hino,Tokyo,Japan,102-0076)
資料名：
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻： 2020 号： IOLTS ページ： 1-6 発行年： 2020年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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