文献
J-GLOBAL ID:202002256761360007
整理番号:20A2767687
GOA地域におけるITOバイアホールの電気化学的腐食に関する研究【JST・京大機械翻訳】
Research on Electrochemical Corrosion of ITO Via Hole in GOA Area
著者 (6件):
Chen Wei
(BOE Optoelectronic Technology Co., Ltd,Product Integration Department,Beijing,P.R. China,100176)
,
Liu Hanqing
(BOE Optoelectronic Technology Co., Ltd,Product Integration Department,Beijing,P.R. China,100176)
,
Li Xin
(BOE Optoelectronic Technology Co., Ltd,Product Integration Department,Beijing,P.R. China,100176)
,
Song Yong
(BOE Optoelectronic Technology Co., Ltd,Product Integration Department,Beijing,P.R. China,100176)
,
Yu Hongjun
(BOE Optoelectronic Technology Co., Ltd,Product Integration Department,Beijing,P.R. China,100176)
,
Xue Hailin
(BOE Optoelectronic Technology Co., Ltd,Product Integration Department,Beijing,P.R. China,100176)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2020
号:
IPFA
ページ:
1-4
発行年:
2020年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)