文献
J-GLOBAL ID:202002256765234904
整理番号:20A2448661
トンネリングと熱電子放出機構の線形性/相互変調歪解析;設計提案と高周波研究【JST・京大機械翻訳】
Linearity/intermodulation distortion analysis of tunneling and thermionic emission mechanisms; design proposal and high frequency investigation
著者 (5件):
Yadav Shivendra
(RGM College of Engineering and Technology, Kurnool, AP India)
,
Khare Anuj
(Indian Institute of Information Technology, Design and Manufacturing, MP India)
,
Anju
(National Institute of Technology, Raipur, CG India)
,
Mishra Guru Prasad
(National Institute of Technology, Raipur, CG India)
,
Aslam Mohd.
(RGM College of Engineering and Technology, Kurnool, AP India)
資料名:
Semiconductor Science and Technology
(Semiconductor Science and Technology)
巻:
35
号:
10
ページ:
105021 (8pp)
発行年:
2020年
JST資料番号:
E0503B
ISSN:
0268-1242
CODEN:
SSTEET
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)