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文献
J-GLOBAL ID：202002257270617810
整理番号：20A2258604
超低電力プロセッサにおける長期負荷依存BTI劣化によって生成される機能エラーの解析【JST・京大機械翻訳】
Analysis of Functional Errors Produced by Long-Term Workload-Dependent BTI Degradation in Ultralow Power Processors
Duch Loris
(Swiss Federal Institute of Technology in Lausanne (EPFL), Lausanne, Switzerland)
,
Peon-Quiros Miguel
(Swiss Federal Institute of Technology in Lausanne (EPFL), Lausanne, Switzerland)
,
Weckx Pieter
(IMEC, Leuven, Belgium)
,
Levisse Alexandre
(Swiss Federal Institute of Technology in Lausanne (EPFL), Lausanne, Switzerland)
,
Braojos Ruben
(Swiss Federal Institute of Technology in Lausanne (EPFL), Lausanne, Switzerland)
,
Catthoor Francky
(IMEC, Leuven, Belgium)
,
Atienza David
(IMEC, Leuven, Belgium)
資料名：
IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems
(IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems)
巻： 28 号： 10 ページ： 2122-2133 発行年： 2020年
JST資料番号： W0516A ISSN： 1063-8210 CODEN： ITCOB4 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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