文献
J-GLOBAL ID:202002257434836308
整理番号:20A2739010
Si基板上でのディープサブマイクロメートルNbN/AlN/NbNエピタキシャル接合の作製
Fabrication of deep-sub-micrometer NbN/AlN/NbN epitaxial junctions on a Si-substrate
著者 (2件):
Qiu Wei
(Advanced ICT Research Institute, National Institute of Information and Communications Technology, 588-2 Iwaoka, Nishi-ku, Kobe, 651-2492, Japan)
,
Terai Hirotaka
(Advanced ICT Research Institute, National Institute of Information and Communications Technology, 588-2 Iwaoka, Nishi-ku, Kobe, 651-2492, Japan)
資料名:
Applied Physics Express
(Applied Physics Express)
巻:
13
号:
12
ページ:
126501 (5pp)
発行年:
2020年12月
JST資料番号:
F0599C
ISSN:
1882-0778
CODEN:
APEPC4
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)